Este trabalho tem como objetivo estudar os métodos de desenvolvimento de testes de semicondutores em testadores de baixo custo e propor ferramentas que proporcionem a redução dos custos da realização destes testes. Para isto, o trabalho apresenta, em sua primeira parte, uma introdução aos testadores automáticos de semicondutores, explicando o que eles são e para que eles servem. Em seguida são apresentados os mecanismos de testes de semicondutores, tanto internos quanto externos ao circuito integrado. Logo após são mostrados três estudos de caso de circuitos integrados distintos que exemplificam a implementação dos seus respectivos testes. Na segunda parte do trabalho, são apresentados os conceitos de custo do teste de semicondutores. Com o uso destes conceitos, são feitas análises para os três estudos de caso já apresentados através de ferramentas de análise de custo do teste. / The goal of this work is to study development methods of semiconductor tests in low-cost tests and propose tools in order to provide cost reduction of these tests. In order to do so, this work presents, in its first part, an introduction to automatic test equipments, explaining what are ATEs and what is their purpose. Then it presents semiconductor testing mechanisms, both internal and external to the integrated circuit. Then three case studies are presented in separate integrated circuits that exemplify the implementation of the respective tests. In the second part, the concepts of semiconductor test costs are presented. With the use of these concepts, analysis are accomplished for the three case studies, through test cost analysis tools.

Este trabalho tem como objetivo estudar os métodos de desenvolvimento de testes de semicondutores em testadores de baixo custo e propor ferramentas que proporcionem a redução dos custos da realização destes testes. Para isto, o trabalho apresenta, em sua primeira parte, uma introdução aos testadores automáticos de semicondutores, explicando o que eles são e para que eles servem. Em seguida são apresentados os mecanismos de testes de semicondutores, tanto internos quanto externos ao circuito integrado. Logo após são mostrados três estudos de caso de circuitos integrados distintos que exemplificam a implementação dos seus respectivos testes. Na segunda parte do trabalho, são apresentados os conceitos de custo do teste de semicondutores. Com o uso destes conceitos, são feitas análises para os três estudos de caso já apresentados através de ferramentas de análise de custo do teste. / The goal of this work is to study development methods of semiconductor tests in low-cost tests and propose tools in order to provide cost reduction of these tests. In order to do so, this work presents, in its first part, an introduction to automatic test equipments, explaining what are ATEs and what is their purpose. Then it presents semiconductor testing mechanisms, both internal and external to the integrated circuit. Then three case studies are presented in separate integrated circuits that exemplify the implementation of the respective tests. In the second part, the concepts of semiconductor test costs are presented. With the use of these concepts, analysis are accomplished for the three case studies, through test cost analysis tools.

Este trabalho tem como objetivo estudar os métodos de desenvolvimento de testes de semicondutores em testadores de baixo custo e propor ferramentas que proporcionem a redução dos custos da realização destes testes. Para isto, o trabalho apresenta, em sua primeira parte, uma introdução aos testadores automáticos de semicondutores, explicando o que eles são e para que eles servem. Em seguida são apresentados os mecanismos de testes de semicondutores, tanto internos quanto externos ao circuito integrado. Logo após são mostrados três estudos de caso de circuitos integrados distintos que exemplificam a implementação dos seus respectivos testes. Na segunda parte do trabalho, são apresentados os conceitos de custo do teste de semicondutores. Com o uso destes conceitos, são feitas análises para os três estudos de caso já apresentados através de ferramentas de análise de custo do teste. / The goal of this work is to study development methods of semiconductor tests in low-cost tests and propose tools in order to provide cost reduction of these tests. In order to do so, this work presents, in its first part, an introduction to automatic test equipments, explaining what are ATEs and what is their purpose. Then it presents semiconductor testing mechanisms, both internal and external to the integrated circuit. Then three case studies are presented in separate integrated circuits that exemplify the implementation of the respective tests. In the second part, the concepts of semiconductor test costs are presented. With the use of these concepts, analysis are accomplished for the three case studies, through test cost analysis tools.