Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-13T22:20:46Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Morelhao_SergioLuiz_M.pdf: 1417672 bytes, checksum: 4f5418b8c55b1008151e0489903dff5e (MD5) Previous issue date: 1990 / Resumo: Neste trabalho, é desenvolvido um método baseado na técnica de difração múltipla de raios-X, para caracterizar a discordância entre os parâmetros de rede da camada e do substrato, na direção paralela à interface camada/substrato. Esse método utiliza os casos de três feixes envolvendo as reflexões secundárias de superfície, cujo feixe secundário é espalhado paralelamente aos planos atômicos primários, além das difrações múltiplas híbridas, oriundas da interação entre as redes da camada e do substrato. A deteção de ambas num mesmo diagrama Renninger, possibilita a caracterização desejada. Para o estudo da ocorrência das contribuições híbridas, foi necessário considerar a geometria de Kossel para a difração múltipla, utilizada na técnica do feixe de raios-X divergente. A utilização das equações básicas dessa geometria, foi modificada de forma a contemplar o espalhamento pelos planos secundários e de acoplamento, que são importantes na interação das redes camada/substrato. Esse novo tratamento fornece a possibilidade de considerar o efeito de imperfeições cristalinas (largura mosaico como um primeiro exemplo) nas equações desenvolvidas, com facilidade. Também, a partir dele, foi possível traçar diagramas de incidência, que evidenciam tanto os efeitos da divergência do feixe incidente quanto a observação das contribuições híbridas. O método desenvolvido foi aplicado a dois sistemas: GaAs/Si[001] e InGaAsP/GaAs[001], e apresentam resultados muito bons na caracterização deles. Além disso, mostrou que mesmo camadas finas (da ordem de 500Þ neste trabalho) intermediárias entre uma camada externa mais espessa e o substrato, podem ser analisadas com razoável precisão / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Stephenson Caticha-Ellis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-15T10:45:31Z (GMT). No. of bitstreams: 1 CatichaAlfonso_Ariel_M.pdf: 2763768 bytes, checksum: 29657ada0acd8d3cae092d47ee297020 (MD5) Previous issue date: 1979 / Resumo: Não informado / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientadores: S. Caticha Ellis, Shil-Lin Chang / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T06:20:38Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Savi_ArlindoAntonio_M.pdf: 1519545 bytes, checksum: 32526f5f763de2fedfcf5f7ac53dc254 (MD5) Previous issue date: 1978 / Resumo: Não informado / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-20T03:57:48Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Avanci_LuisHumberto_M.pdf: 1153304 bytes, checksum: 2d8070b9011e768604711d089c934bad (MD5) Previous issue date: 1995 / Resumo: Neste trabalho, os casos de três feixes de superfície (000 200 111) da difração múltipla de raios-X são utilizados de forma inédita, na caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) crescidas por epitaxia de feixe molecular com fonte gasosa (GSMBE). Um programa desenvolvido para a simulação do perfil e posição desses casos de três feixes nos diagramas Renninger, foi utilizado na detem1inação da largura mosaico paralela (hf) e perpendicular (hw ) à direção do crescimento da camada. Valores menores de ambas as larguras obtidos para as amostras que sofreram tratamento térmico rápido (RT A), indicam que esse tratamento após o crescimento, realmente melhora a perfeição cristalina das camadas. A análise do parâmetro de rede da camada na direção paralela à sua superfície, também obtido do programa, em função da temperatura de nucleação, mostrou que os resultados seguem o modelo de tensão térmica na camada, no qual a temperatura de nucleação é mais importante do que a temperatura de crescimento das camadas de lnP .A condição angular da difração múltipla, quando analisada em detalhes através da variação do ângulo de incidência w e do ângulo de rotação f em tomo da direção [100], acarreta no mapeamento desta condição. Um método baseado nas varreduras w :f , que permite a análise da desorientação superficial dos blocos mosaicos ou das grandes regiões perfeitas difratantes em cristais quase-perfeitos, foi aplicado pela primeira vez em heteroestruturas, no sistema InP/GaAs deste trabalho. A curvas de isointensidade dessas varreduras para o substrato GaAs, permitiu observar diretamente o efeito da tensão provocada pelo crescimento da camada de lnP , na rede do substrato / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. / Made available in DSpace on 2012-10-18T01:47:32Z (GMT). No. of bitstreams: 0Bitstream added on 2014-09-25T19:20:14Z : No. of bitstreams: 1 170221.pdf: 27532728 bytes, checksum: 4d8105cfb5925248b8e756b54ea37a91 (MD5) / A inclusão de ilhas em modelos numéricos de propagação de onda baseados na aproximação parabólica da Equação de Declive Suave é um assunto de grande importância para a costa brasileira. Normalmente as ilhas são representadas por uma fina película de água que implica na arrebentação das ondas. Porém, ilhas com declives laterais íngremes violam a hipóteses do Declive Suave provocando o aparecimento de ruído numérico no campo de ondas calculado. Este trabalho analisa a possibilidade de modelar-se ilhas como áreas localizadas de dissipação de energia na tentativa de diminuir a geração de ruído numérico. Primeiramente é apresentada uma descrição dos modelos de refração-difração e suas hipóteses básicas. A seguir, é apresentada uma revisão da solução analítica de Penney & Price (1952) para difração de ondas, que posteriormente é utilizada como referência para a identificação do ruído numérico nas soluções numéricas. São também discutidos os dois métodos de inclusão de ilhas, ou seja, a "ilha película" e a "ilha dissipativa". A influência dos espaçamentos da grade computacional, do ângulo de incidência da onda e a largura de um ilha na geração e propagação do ruído numérico são investigados em detalhes. Finalizando mostra-se que na modelação de ilhas como áreas de dissipação de energia existe uma substancial diminuição da geração de ruído numérico.

Orientador: Iris C. L. Torriani / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin" / Made available in DSpace on 2018-07-21T01:11:15Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Cavalcanti_LeidePassos_M.pdf: 3330779 bytes, checksum: 0ee0ee5329fea84a0242a1b3d9be2a9c (MD5) Previous issue date: 1995 / Resumo: Este trabalho apresenta um estudo de filmes finos e ultrafinos por difração de raios-X com reflexão as simétrica e baixo ângulo de incidência através da utilização do Goniômetro de Guinier. O objetivo principal deste trabalho foi estudar de maneira geral as propriedades da difração por reflexão as simétrica com o intuito de mostrar as possibilidades da técnica na aplicação ao estudo de filmes finos. São apresentados resultados da caracterização de filmes finos de Ge nanocristalino crescidos por sputtering sobre lâmina monocristalina do mesmo material. As análises permitem identificar um perfil de profundidade com relação à textura. Tanto nestas amostras como também em filmes de Au sobre Si monocristalino foi possível subtrair completamente as reflexões do substrato. Outro aspecto interessante desta técnica abordado neste estudo é mostrado com os resultados de uma amostra de GaAs não dopado crescido epitaxialmente sobre substrato de Si monocristalino. Foi obtida uma caracterização da epitaxia sob diferentes ângulos azimutais. Além de mostrar a aplicação desta geometria no estudo dos filmes mencionados, uma grande contribuição desta tese foi, sem dúvida, a implementação da técnica no Laboratório de Cristalografia Aplicada e Raios-X do IFGW onde será usado como importante instrumento de pesquisa / Abstract: In this work we present a study of thin and ultrathin3 films by X-Ray diffraction with asymmetric ref1ection and small incidence angle using a Guinier goniometer. The main purpose of this work was to study, in general, the properties of the diffraction by asymmetric ref1ection showing alI the possibilities of this technique when applied to the study of thin films. We present results on characterization of nanocrystalline Germanium thin films deposited by sputtering on aGe substrate. The analyses allow us to identify a depth profile of the films texture. Both for these Germanium samples and for Gold thin films on monocrystalline Silicon it was possible to suppress the substrate ref1ection. Another interesting aspect of this technique is revealed by the results obtained in the study of an undoped GaAs epitaxial layer grown on a monocrystalline Silicon substrate. A characterization of the epitaxy under different azimuths was obtained. Besides showing the application of this geometry in the study of thin films, another contribution of this thesis as the implementation of the technique in the 'Laboratório de Cristalografia Aplicada e Raios-X' (IFGW) where it is going to be used as an important research tool / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientadores: Richard Landers, George G. Kleiman / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-08-03T00:08:02Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Siervo_Abnerde_D.pdf: 6219052 bytes, checksum: d9dd9f2c686ecda54fe96c28d12be9d3 (MD5) Previous issue date: 2002 / Resumo: As propriedades físico-químicas de um material, como uma liga metálica, podem ser entendidas como uma função da sua estrutura eletrônica e das posições relativas entre os átomos. A superfície representa um caso particular, e a quebra da periodicidade em uma direção pode provocar mudanças estruturais e eletrônicas importantes que afetam as propriedades do material. É particularmente importante conhecer a posição dos átomos na rede cristalina. No volume de um material isto pode ser feito através de técnicas consagradas como difração de raios-x; contudo, para a superfície esta tarefa é muito mais complicada. No caso de ligas de superfície estas apresentam-se como novos materiais e desenvolvem um grande interesse do ponto de vista acadêmico e aplicado. Este trabalho apresenta uma investigação da estrutura eletrônica e cristalográfica de ligas de superfície a partir de filmes finos crescidos por MBE sobre superfícies monocristalinas bem caracterizadas. A caracterização da dinâmica de crescimento dos filmes foi feita por XPS e RHEED; e na determinação estrutural das ligas utilizou-se LEED (qualitativo) e Difração de Fotoelétrons. Para o caso de liga ordenada de superfície também é apresentado a determinação estrutural por cálculos de primeiros princípios usando a Teoria do Funcional-Densidade. Nesta dissertação são apresentados os casos de Pd sobre Cu(111), Cu sobrePd(111) e Sb sobre Pd(111) / Abstract: The physico-chemical properties of a material, such as a metallic alloy, can be understood as a function of its electronic structure and the relative positions between its atoms. The surface is a particular case in the material, due to the break of periodicity in the direction perpendicular to the surface this can affect the structural and electronic properties of the material. It is particularly important to know the position of the atoms in the crystalline lattice. In the bulk of a material this can be measured using techniques such as rays-x diffraction. For the surface this task is much more complicated. Surface alloys represent new materials and their development is of great interest both from the academic and technological point of view. The present body of work presents a study of the electronic and geometric structure of surface alloys; grown by MBE on well-characterized monocrystalline surfaces. XPS and RHEED were used to characterize the dynamics of growth, and LEED (qualitative) and Photoelectron Diffraction did the structural determination of surface alloys. For the particular case of ordered surface alloys we also present a theoretical first principles structural determination using Density Functional-Theory. This dissertation shows three systems: Pd on Cu(111), Cu on Pd(111) and Sb on Pd(111) / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Carlos Manuel Giles Antunez de Mayolo / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-08-03T16:46:24Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Yokaichiya_Fabiano_D.pdf: 4482602 bytes, checksum: 2f3e63002ac792dc761cfe0c29808dbc (MD5) Previous issue date: 2003 / Resumo: Ordenamentos multipolares elétricos da camada 4f do holmio foram sistematicamente estudados pela primeira vez por difração de raios-X nos regimes não-ressonante e ressonante (borda L3) e nas fases antiferromagnética helicoidal e ferromagnética cônica. O ordenamento dos multipolos elétricos é resultante do forte acoplamento spin-órbita e possui a mesma estrutura que o ordenamento magnético evidenciado por medidas em função da temperatura. A natureza quadrupolar dos satélites observados no espectro de difração a 2 t e 4 t das reflexões de Bragg, foram evidenciadas por medidas em função do momento transferido Q no regime não-ressonante. Os picos satélites ô observados na fase ferromagnética surgem do ordenamento helicoidal cônico dos quadrupolos elétricos. O fenômeno de interferência entre satélites 2 t : quadrupolar elétrico - dipolar magnético, medidos na borda L3do Ho foi observada por difração ressonante de raios-X. Uma interpretação qualitativa da interferência construtiva e destrutiva visto para diferentes reflexões foi apresentada. Observou-se uma inversão de fase dos satélites quadrupolares em relação aos picos de Bragg, que foi explicada través de um modelo que considera a teoria do tensor de susceptibilidade anisotrópico (ATS) aplicado a sistemas incomensuráveis. Este trabalho também abrange a montagem e o comissionamento da linha de luz XRD2, no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS), que é dedicada ao estudo de estruturas magnéticas e de ordenamentos orbitais e multipolares / Abstract: Multipolar ordering in metallic holmium 4f shell was extensively studied for the first time, by resonant and non resonant X-ray scattering at the helical antiferromagnetic and conical ferromagnetic phases. The strong spin-orbit coupling drives the multipolar order as it was experimentally confirmed through the temperature dependence of the ordering wave-vector t . The quadrupolar nature of the 2 t and 4 t satellite peaks, measured in the non-resonant regime, were in good agreement with calculations of the form factor Q- dependence. Non magnetic satellite peaks observed at t in the ferromagnetic phase correspond to the conical ordering of the 4f quadrupoles strongly coupled to the magnetic ordering. Positive and negative interference effects at 2 t measured with resonant X-ray scattering at Ho L3 edge correspond to the addition or subtraction of the magnetic and quadrupolar resonant enhancements at the s-p polarization channel and at the quadrupolar transition 2p ® 4f. An apparent "phase inversion" observed for the 2 t and 4 t satellite peaks was interpreted using the anisotropic tensor susceptibility (ATS) theory applied to incommensurate systems. The construction and commissioning of the XRD2 beamline at the Brazilian Synchrotron Light Laboratory (LNLS) dedicated to the study of charge, orbital and magnetic structures was also an important part of this work / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Lucila Cescato / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-08-03T16:28:15Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Cordeiro_CristianoMonteirodeBarros_D.pdf: 18297420 bytes, checksum: 6b5ccd6fb08ba91ae777a2b43ab4d319 (MD5) Previous issue date: 2003 / Resumo: Neste trabalho foi proposta e utilizada uma técnica, baseada na Mistura de Ondas, para a caracterização de redes de difração em relevo e para o estudo em tempo real de materiais fotossensíveis. Chamamos de mistura de onda ao fenômeno que ocorre quando um padrão de interferência é projetado sobre uma rede de difração de mesmo período. Nesta situação é gerada, em cada uma das direções dos feixes transmitidos, uma mistura ou interferência entre duas ondas difratadas pela rede. Esta mistura carrega informação tanto da amplitude e fases das ondas difratadas como da fase relativa entre o padrão de interferência e a rede. A análise detalhada destas fases possibilitou um melhor entendimento físico do problema e o desenvolvimento de aplicações. As técnicas desenvolvidas neste trabalho utilizam o processamento dos sinais de mistura de onda, nas duas direções das ondas transmitidas, aproveitando a simetria desta configuração. As características particulares desta técnica permitiram: (a) a realização da medida absoluta da diferença de fase entre duas ordens consecutivas de difração de redes em relevo e, (b) a separação das contribuições da modulação do índice de refração e do coeficiente de absorção que ocorrem em tempo real em materiais fotossensíveis / Abstract: In this work it is proposed and demonstrated the use of a wave mixing technique to characterize relief gratings and photosensitive materiais. The wave mixing occurs when an interference pattern is project onto a grating of the same period. In this situation, in each direction of the transmitted beams, it is generated a mixing between two waves diffracted by the grating. This interference carries out information about the amplitude and phase of the diffracted waves, and about the phase difference between the light pattern and the grating. The detailed analysis of these phases allows a better physical understanding of the problem and the developing of new applications. The technique developed in this work uses the processing of the wave mixing signals in both transmitted directions, taking advantage of the symmetry of the configuration. The unique characteristics of this technique permit: (a) to make the absolute phase difference measurements between two consecutive diffraction orders of relief gratings and, (b) to separate the contributions of the refractive index modulation and the absorption coefficient modulation that occurs in photosensitive materiais in real time / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Lucila Helena Deliesposte Cescato / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-08-03T16:15:17Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Carvalho_EdsonJosede_M.pdf: 7453889 bytes, checksum: 0d4a66734adaf2f4c9f36b7ef54e6eda (MD5) Previous issue date: 2003 / Resumo: Esta tese trata do desenvolvimento de processos de replicação de elementos ópticos difrativos. Este processo pode ser dividido em três etapas: gravação do elemento óptico matriz, confecção do molde e obtenção das réplicas. O estudo conduzido foi baseado em dois tipos de elementos: matrizes de microlentes e redes de difração holográficas. As matrizes destes elementos foram gravadas em fotorresinas utilizando-se a técnica de fotogravação e amolecimento da resina, para o caso das microlentes e exposições holográfica para gravação das redes de difração com relevos sub-micrométricos. A partir destas estruturas foram confeccionados moldes em Níquel dos elementos, através de um sistema de eletroformação montado em nosso laboratório durante esta tese. As réplicas foram obtidas em equipamentos de injeção de plástico disponíveis em empresas do ramo fonográfico (Sonopress) e produção de lentes (Optovac). Em cada etapa, dos processos os perfis em relevo das estruturas foram sistematicamente caracterizadas através de medidas de perfilometria, microscopias eletrônica de varredura (SEM) e microscopia de força atômica (AFM) assim como foram realizadas medidas das propriedades ópticas das matrizes e réplicas. Os resultados destas medições comparativas permitiram estabelecer as características dos perfis em que se pode garantir a fidelidade das réplicas. Os avanços obtidos durante o desenvolvimento desta tese, tanto nos processos de replicação de elementos difrativos quanto na fabricação de micro-estruturas metálicas, aproximam os resultados da pesquisa desenvolvida na universidade do setor produtivo. / Abstract: The replication of diffractive optical elements is the subject of this thesis. The replication can be divided in three steps: the recording of the matrix optical element, the electroforming of the stamper and the manufacture of replicas. This study was based in two types of elements: microlenses array and holographic diffraction gratings. The microlenses arrays were recorded in photoresist by using photolithographic and melting resist techniques, while the diffraction gratings were recorded using holographic exposures. Starting from these structures, the Nickel stampers have been formed using an electroforming system mounted in our laboratory during this thesis. The replicas were manufactured in injection molding systems of a phonographic company (Sonopress) and of a lens manufacture (Optovac). In each steps of the process, the relief profiles have been measured by profilometry, scanning electronic microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM). The diffraction efficiencies of both matrix and replicas were also measured. The results of the measurements allowed to establish the profile characteristics that can be accurately replicated through this process. The development achieved in this thesis, in both replication processes and in the manufacture of metallic micro-structures, approach the results of the research developed in the university to the market. / Mestrado / Física / Mestre em Física