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Spelling suggestions: "subject:"cultiple well upset (MCU)"" "subject:"cultiple well opset (MCU)""

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集積回路におけるシングルイベント効果の評価とソフトエラー耐性向上手法の提案

古田, 潤 24 March 2014 (has links)
京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(情報学) / 甲第18411号 / 情博第526号 / 新制||情||93(附属図書館) / 31269 / 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 / (主査)教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史, 教授 佐藤 高史 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Informatics / Kyoto University / DFAM
ソフトエラー
中性子
冗長化フリップフロップ
寄生バイポーラ効果
Multiple Cell Upset (MCU)
007

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