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Inferência sob planos amostrais de cadastro duploFernandes Campos Coêlho, Hémilio 31 January 2011 (has links)
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Previous issue date: 2011 / Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico / A abordagem de cadastro duplo envolve um levantamento amostral onde dois cadastros são
utilizados com o propósito de fornecer maior cobertura e identificar elementos de uma única
população-alvo. Tal abordagem tem sido vastamente utilizada na literatura em situações onde
um único cadastro não consegue fornecer cobertura completa da população-alvo, ou ainda,
quando há diferenças de custo de amostragem realizada em cada um dos cadastros disponíveis.
Esta tese estuda estratégias de inferência assistida por modelos aplicadas à abordagem
de cadastro duplo, propondo estimadores do tipo regressão generalizado. Variáveis auxiliares
são consideradas disponíveis em ambos os cadastros e utilizadas no processo de estimação
para aumentar a precisão de estimativas. As propriedades de consistência, centralidade assintótica
e erro quadrático médio assintótico dos novos estimadores propostos são apresentadas
e uma simulação é realizada para analisar sua eficiência relativa a estimadores já propostos
na literatura, sob a situação em que um plano de amostragem aleatória simples é aplicado em
cada um dos cadastros. Os estimadores propostos têm potencialidade de aplicação direta em
diversas áreas, como a de pesquisa agropecuária
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