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Search results
Showing 1 to 6 of 6 (0.077 seconds)Spelling suggestions: "subject:"röntgendiffraktometrie"" "subject:"reflektometrie""
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Komplexe Röntgendiffraktometrie an DünnschichtsystemenMildner, Marcus 18 April 2005 (has links) (PDF)
Ziel dieser Arbeit war es, die in der Professur Oberflächen- und Grenzflächenphysik
hergestellten Schichtsysteme strukturell zu charakterisieren. Mit Hilfe der
Röntgendiffraktometrie (XRD) ist es möglich, die Phasen und die Orientierung der
aufgewachsenen Schicht zu bestimmen. Mit einem weiteren Verfahren, der
Röntgenreflektometrie (XRR), lassen sich Aussagen über die Schichtqualität treffen. Durch
die Kombination dieser Methoden erhält man detaillierte Auskünfte über die Proben.
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Röntgenografische Charakterisierung von Indium-Zinn-Oxid-DünnschichtenKaune, Gunar 07 January 2006 (has links) (PDF)
Mittels reaktivem Magnetron-Sputtern hergestellte Indium-Zinn-Oxid-Dünnschichten
wurden mit den Methoden der Röntgendiffraktometrie und Röntgenreflektometrie charakterisiert.
Es konnte gezeigt werden, dass die Wahl des Arbeitspunktes bei der Schichtabscheidung
erheblichen Einfluss auf Kristallitorientierung, Gitterkonstante und Größe der Schichtspannung hat.
Zusätzlich wurden mittels des Langford-Verfahrens Korngröße und Mikrospannungen bestimmt.
Im Rahmen der röntgenografischen Spannungsmessung zeigten sich nichtlineare Verläufe der
Dehnung über sin²Ψ, die mit dem Kornwechselwirkungsmodell nach Vook und Witt
erklärt werden.
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Komplexe Röntgendiffraktometrie an DünnschichtsystemenMildner, Marcus 02 March 2005 (has links)
Ziel dieser Arbeit war es, die in der Professur Oberflächen- und Grenzflächenphysik
hergestellten Schichtsysteme strukturell zu charakterisieren. Mit Hilfe der
Röntgendiffraktometrie (XRD) ist es möglich, die Phasen und die Orientierung der
aufgewachsenen Schicht zu bestimmen. Mit einem weiteren Verfahren, der
Röntgenreflektometrie (XRR), lassen sich Aussagen über die Schichtqualität treffen. Durch
die Kombination dieser Methoden erhält man detaillierte Auskünfte über die Proben.
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Röntgenografische Charakterisierung von Indium-Zinn-Oxid-DünnschichtenKaune, Gunar 26 September 2005 (has links)
Mittels reaktivem Magnetron-Sputtern hergestellte Indium-Zinn-Oxid-Dünnschichten
wurden mit den Methoden der Röntgendiffraktometrie und Röntgenreflektometrie charakterisiert.
Es konnte gezeigt werden, dass die Wahl des Arbeitspunktes bei der Schichtabscheidung
erheblichen Einfluss auf Kristallitorientierung, Gitterkonstante und Größe der Schichtspannung hat.
Zusätzlich wurden mittels des Langford-Verfahrens Korngröße und Mikrospannungen bestimmt.
Im Rahmen der röntgenografischen Spannungsmessung zeigten sich nichtlineare Verläufe der
Dehnung über sin²Ψ, die mit dem Kornwechselwirkungsmodell nach Vook und Witt
erklärt werden.
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Collective Short Wavelength Dynamics in Phospholipid Model Membranes - with Inelastic Neutron Scattering / Kollektive Dynamik in Phospholipid Modellmembranen bei kurzen Wellenlängen - mit Inelastischer NeutronenstreuungBrüning, Beate-Annette 02 December 2008 (has links)
No description available.
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Multilagenzonenplatten für die Mikroskopie mit harter Röntgenstrahlung / Multilayer Zone Plates for hard x-ray microscopyEberl, Christian 23 June 2016 (has links)
No description available.
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