1 |
Measurement of surface forces of adsorbed layers on smooth substratesFranz, Volker. January 2001 (has links) (PDF)
Siegen, Univ., Diss., 2002. / Computerdatei im Fernzugriff.
|
2 |
Measurement of surface forces of adsorbed layers on smooth substratesFranz, Volker. January 2001 (has links) (PDF)
Siegen, Univ., Diss., 2002. / Computerdatei im Fernzugriff.
|
3 |
Measurement of surface forces of adsorbed layers on smooth substratesFranz, Volker. January 2001 (has links) (PDF)
Siegen, University, Diss., 2002.
|
4 |
Force sensing and surface analysis with optically trapped microprobesPampaloni, Francesco. January 2002 (has links) (PDF)
Regensburg, University, Diss., 2002.
|
5 |
Energiedissipation in der RasterkraftmikroskopieRoll, Tino January 2009 (has links)
Zugl.: Duisburg, Essen, Univ., Diss., 2009
|
6 |
Rasterkraftmikroskopie an makromolekularen ProteinkomplexenSchiener, Jens Michael. Unknown Date (has links)
Techn. Universiẗat, Diss., 2005--München.
|
7 |
Kelvinsondenkraftmikroskopie im Ultrahochvakuum zur Charakterisierung von Halbleiter-Heterodioden auf der Basis von ChalkopyritenSommerhalter, Christof. January 1999 (has links)
Berlin, Freie Universiẗat, Diss., 1999. / Dateiformat: zip, Dateien im PDF-Format.
|
8 |
Dynamik der Spitze-Probe-Wechselwirkung bei der Rasterkraftmikroskopie an ElastomerenDelineau, Lydie. Unknown Date (has links) (PDF)
Universiẗat, Diss., 2001--Freiburg (Breisgau).
|
9 |
Hochauflösende Strukturierung von Siliziumoberflächen mittels Mikrokontaktdruck-Technik untersucht mit RasterkraftmikroskopieBarth, Peter, January 2006 (has links)
Ulm, Univ. Diss., 2006.
|
10 |
Rasterkraftmikroskopische Untersuchungen zur Spezifität der Peptidadhäsion auf HalbleiteroberflächenGoede, Karsten January 2008 (has links)
Zugl.: Leipzig, Univ., Diss., 2008
|
Page generated in 0.0978 seconds