Η συνεχής μείωση των διαστάσεων των ψηφιακών κυκλωμάτων σε συνδυασμό με την ολοένα αυξανόμενη πολυπλοκότητά τους, έχει οδηγήσει στην απαίτηση για αξιοπιστία και συνεπώς στην εφαρμογή τεχνικών ελέγχου για την εξασφάλιση της ορθής λειτουργίας τους. Οι βασικοί τρόποι εφαρμογής του ελέγχου σε ένα κύκλωμα μετά την κατασκευή του και την τοποθέτησή του στη συσκευασία είναι ο εξωτερικός (off-chip – εξολοκλήρου χρήση εξωτερικού ελεγκτή ATE), ο BIST (Built-In Self Test – μηδενική χρήση ATE) και ο ενσωματωμένος (embedded – συνδυασμός χρήσης ATE με ενσωματωμένες δομές ελέγχου). Η συγκεκριμένη διπλωματική εργασία επικεντρώνεται στη χρήση του ενσωματωμένου ελέγχου και συγκεκριμένα σε μια κατηγορία αυτού που ονομάζεται εμφώλευση συνόλου δοκιμής (test set embedding) στην οποία το σύνολο δοκιμής ενσωματώνεται σε μια μεγαλύτερη ακολουθία καταστάσεων ενός κυκλώματος παραγωγής διανυσμάτων δοκιμής. Σε αυτή τη διπλωματική εργασία προτείνεται μια νέα μέθοδος για ενσωματωμένο έλεγχο που κάνει χρήση της ανατροφοδότησης (reseeding) για έλεγχο με χρήση ολισθητή γραμμικής ανάδρασης (LFSR). Η μέθοδος αυτή χρησιμοποιείται είτε σε απλές αρχιτεκτονικές ελέγχου με LFSR, είτε σε πολυφασικές αρχιτεκτονικές, πάντα για κυκλώματα με πολλαπλές αλυσίδες. Στην πολυφασική αρχιτεκτονική εκμεταλλευόμαστε τις ακολουθίες από bits που εξάγονται από διάφορες βαθμίδες ενός LFSR, το οποίο χρησιμοποιείται για την παραγωγή διανυσμάτων δοκιμής, για να κωδικοποιήσουμε το σετ ελέγχου της υπό δοκιμή λειτουργικής μονάδας. Παρουσιάζεται ένας νέος αλγόριθμος, ο οποίος περιλαμβάνει τέσσερα κριτήρια για την αποδοτική επιλογή νέων αρχικών καταστάσεων και των βαθμίδων του LFSR. Τέλος παρουσιάζεται και μια μεθοδολογία μείωσης του μήκους της παραγόμενης ακολουθίας δοκιμής. Στη συνέχεια και για να συγκρίνουμε τα αποτελέσματα που εξάγονται από την παραπάνω μέθοδο υλοποιήθηκε μια νέα τεχνική που έχει προταθεί πρόσφατα στη βιβλιογραφία. Η μέθοδος αυτή καλείται REusing Scan chains for test Pattern decompressIoN (RESPIN) και έχει κύριο χαρακτηριστικό την εμφώλευση του συνόλου δοκιμής. Σύμφωνα με τη μέθοδο αυτή η αποσυμπίεση των διανυσμάτων που ελέγχουν μια λειτουργική μονάδα γίνεται με τη χρήση αλυσίδων ελέγχου μιας δεύτερης λειτουργικής μονάδας που βρίσκεται μέσα στο chip και που τη στιγμή του ελέγχου είναι σε αδρανή κατάσταση. Έπειτα από εκτενή σύγκριση των δυο προαναφερθέντων τεχνικών καθώς και άλλων τεχνικών που αναφέρονται στη βιβλιογραφία καταλήξαμε στο συμπέρασμα ότι ο συνδυασμός του αλγόριθμου επιλογής νέων αρχικών καταστάσεων ενός LFSR με την τεχνική μείωσης των ακολουθιών ελέγχου αποτελεί ελκυστική λύση και παρέχει καλύτερα αποτελέσματα τόσο ως προς το πλήθος των δεδομένων που αποθηκεύονται στο ΑΤΕ, όσο και ως προς το μήκος των ακολουθιών δοκιμής. / The continual reduction of digital systems’ size in combination to the increase of their complexity, leads to the need of reliability. Consequently it is necessary to apply testing techniques in order to ensure the right functionality. The ways to apply the testing in an in package circuit is the external (off-chip – total use of the external ATE), the BIST (Built-In Self Test – no use of ATE) and the embedded (use of external ATE in combination to embedded test structures). This diploma thesis focus in the embedded testing and particular in test set embedding. In this technique the test set is embodied in a larger state sequence of a test pattern generator circuit. In this diploma thesis we suggest a new method of embedded testing which uses the reseeding of a LFSR. This method is used either in simple architectures with LFSR, or in multiphase architectures, always for circuits with multiple scan chains. In the multiphase architecture we take advantage of the sequence of bits that are driven by the various stages of a LFSR, which is used to generate test patterns, in order to embody the test set of the circuit under test. We present a new algorithm, which include four standards for the efficient selection of new seeds and states of the LFSR. Finally, we present a new method for test sequence length reduction. After that and in order to compare the results of the above method we implement a new technique, which has been suggested recently in the bibliography. This method is called REusing Scan chains for test Pattern decompressIoN (RESPIN) and its main characteristic is the test set embedding. According to this method, the decompression of test patterns is accomplished using the scan chains of another on-chip module, which is in idle state during the test. After a thorough comparison of these two techniques we conclude that the combination of the seed selection algorithm with the test sequence length reduction technique comprise an attractive solution and gives better results for the amount of data to be stored in the external ATE and for the test sequence length.