Las películas de óxido de indio dopado con estaño fueron producidas por pulverizaci
ón catódica de radio frecuencia sobre sustratos de sílice fundida en condiciones de
baja temperatura de sustrato. Las muestras fueron tratadas térmicamente dentro de
una atmósfera inerte a diferentes temperaturas para evaluar la evolución de las constantes
ópticas y propiedades electricas respecto a la temperatura de calentamiento,
con la nalidad de proporcionar un rango más amplio de las propiedades ópticas
y eléctricas del material. Se evalúan los modelos de Drude, Hamberg y Sernelius
para la absorción de portadores de carga en la región infrarroja y la capacidad de
determinar la resistividad eléctrica a partir de medidas de transmitancia óptica. La
resistividad eléctrica, composición elemental, índice de refracción, coe ciente de extinci
ón, energía de Urbach, ancho de banda óptico, tamaño de grano y el parámetro
de red se determinaron sistemáticamente a través de las técnicas de van der Pauw,
espectroscopía de rayos x de energía dispersiva, transmitancia óptica, y difracción de
rayos x para cada temperatura de recocido. Adicionalmente, se realizaron medidas
de efecto Hall y elipsometría espectral en una muestra sin tratamiento térmico y
una muestra recocida, para nes comparativos. Finalmente, se evalua el corrimiento
de Burstein-Moss con los parámetros obtenidos.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:PUCP/oai:tesis.pucp.edu.pe:20.500.12404/23663 |
| Date | 31 October 2022 |
| Creators | Piñeiro Sales, Miguel |
| Contributors | Guerra Torres, Jorge Andres |
| Publisher | Pontificia Universidad Católica del Perú, PE |
| Source Sets | Pontificia Universidad Católica del Perú |
| Language | Spanish |
| Detected Language | Spanish |
| Type | info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | application/pdf |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess, Atribución 2.5 Perú, http://creativecommons.org/licenses/by/2.5/pe/ |
Page generated in 0.0167 seconds