デバイス特性推定に基づく集積回路の適応型テストに関する研究

Description

京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(情報学) / 甲第18624号 / 情博第548号 / 新制||情||97(附属図書館) / 31524 / 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 / (主査)教授 佐藤 高史, 教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Informatics / Kyoto University / DFAM

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1. http://hdl.handle.net/2433/192224
2. 14301甲第18624号
3. 10.14989/doctor.k18624
4. 14301

Tags

集積回路テスト

集積回路製造ばらつき

007

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:kyoto-u.ac.jp/oai:repository.kulib.kyoto-u.ac.jp:2433/192224
Date	24 September 2014
Creators	新谷, 道広
Contributors	佐藤, 高史, 小野寺, 秀俊, 髙木, 直史, Shintani, Michihiro, シンタニ, ミチヒロ
Publisher	京都大学 (Kyoto University), 京都大学
Source Sets	Kyoto University
Language	Japanese
Detected Language	Japanese
Type	doctoral thesis, Thesis or Dissertation
Format	application/pdf
Rights	許諾条件により本文は2014/11/06に公開