集積回路におけるシングルイベント効果の評価とソフトエラー耐性向上手法の提案

Description

京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(情報学) / 甲第18411号 / 情博第526号 / 新制||情||93(附属図書館) / 31269 / 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 / (主査)教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史, 教授 佐藤 高史 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Informatics / Kyoto University / DFAM

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1. http://hdl.handle.net/2433/188870
2. 14301甲第18411号
3. 10.14989/doctor.k18411
4. 14301

Tags

ソフトエラー

中性子

冗長化フリップフロップ

寄生バイポーラ効果

Multiple Cell Upset (MCU)

007

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:kyoto-u.ac.jp/oai:repository.kulib.kyoto-u.ac.jp:2433/188870
Date	24 March 2014
Creators	古田, 潤
Contributors	小野寺, 秀俊, 髙木, 直史, 佐藤, 高史, Furuta, Jun, フルタ, ジュン
Publisher	京都大学 (Kyoto University), 京都大学
Source Sets	Kyoto University
Language	Japanese
Detected Language	Japanese
Type	doctoral thesis, Thesis or Dissertation
Format	application/pdf
Rights	別紙参照, See accompanying paper