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種々の電子状態評価技法の比較 : ELNESに基づく化学結合性の議論

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1. http://hdl.handle.net/2237/21126
2. http://www.microscopy.or.jp/magazine/44_3/mokuji.html
3. 1349-0958
4. 顕微鏡. v.43, n.3, 2009, p.191-198

Identifer	oai:union.ndltd.org:NAGOYA/oai:ir.nul.nagoya-u.ac.jp:2237/21126
Date	January 2009
Creators	Tatsumi, Kazuyoshi, Muto, Shunsuke, 巽, 一厳, 武藤, 俊介
Publisher	公益社団法人日本顕微鏡学会
Source Sets	Nagoya University
Language	Japanese
Detected Language	Japanese
Type	Article(publisher)
Rights	著作権は公益社団法人日本顕微鏡学会が所有する