試料損傷のない高解像度電子顕微鏡観察法の研究

Description

科学研究費補助金 研究種目:一般研究(A) 課題番号:62420021 研究代表者:日比野 倫夫 研究期間:1987-1989年度

Links & Downloads

1. http://hdl.handle.net/2237/12936

Tags

試料損傷

高解像度電子顕微鏡観察

像のSN比

画像処理

走査透過電子顕微鏡

電界放出電子銃

超高圧走査透過電子顕微鏡

Image processing

信号電子検出法

Signal electron detection

信号電子演算

High resolution observation

高解像度観察

信号間演算処理

High voltage STEM

Specimen damage

eld emission electron gun

YAG単結晶シンチレ-タ

ノイズ除去

Manipulation among signal electrons

信号電子間演算

信号演算処理

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:NAGOYA/oai:ir.nul.nagoya-u.ac.jp:2237/12936
Date	03 1900
Creators	日比野, 倫夫, 丸勢, 進, 下山, 宏, 杉山, せつ子, 花井, 孝明, 内川, 嘉樹
Source Sets	Nagoya University
Language	Japanese
Detected Language	Unknown
Type	Research Paper