Return to search

Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02

No description available.

1. Чичерская А. Л. Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская ; [Место защиты: Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина]. — Екатеринбург, 2016. — 24 с. : ил. — Библиогр.: с. 23-24 (12 назв.).
2. http://elar.urfu.ru/handle/10995/40462

Identifer	oai:union.ndltd.org:urfu.ru/oai:elar.urfu.ru:10995/40462
Date	January 2016
Creators	Чичерская, А. Л.
Contributors	Пупышев, А. А.
Source Sets	Ural Federal University
Language	Russian
Detected Language	Russian
Type	Thesis
Format	application/pdf
Rights	Предоставлено автором на условиях простой неисключительной лицензии, http://elar.urfu.ru/handle/10995/31613