A proposta do referente estudo foi medir a espessura do depósito de um metal em
outro metal base, ou seja, utilizar o processo eletroquímico de Galvanoplastia ou
eletrodeposição deste metal, por meio da técnica de fluorescência de raios X (XRF). O uso
desta técnica justificou-se pelo interesse em reduzir os custos excessivos durante o processo
eletroquímico, bem como, minimizar as possíveis margens de erros para obter resultados
satisfatórios nas medidas. Neste trabalho, incluíram-se as medidas da espessura do Níquel
(Ni) e análises da intensidade de radiação incidentes e a radiação atenuante, em função da
espessura dos elementos Cromo (Cr) e Zinco (Zn), considerando como metal base o elemento
Ferro (Fe). Em decorrência disso, em todos os casos foram simulados os processos de
deposição do metal onde foram incluídos os resultados de absorção de raios X, além de
desprezar a influência de outros fatores como a temperatura, o pH, o tratamento de superfície,
entre outros, os quais são necessários para considerar em cada caso. / The proposal concerning the study was to measure the thickness of the deposit of a basemetal into another metal, ie, using the electrochemical processes of
the electroplating orelectrodeposition of this metal, through the technique of X-ray
fluorescence (XRF). The use of this technique was justified by the interest in reducing the
excessive costs during the electrochemical process, as well as minimize the possible margins
of error to obtain satisfactory results in the measures. In this paper, we include measures of
the thickness of the nickel (Ni) and analysis of radiation mitigation and
radiation incidents, according to the thickness of the elements Chromium (Cr) and zinc
(Zn), taking as base metal element iron (Fe). As a result, in all cases were
simulated processes of metal deposition which included the results of X-ray absorption,
and neglect the influence of other factors such as temperature, pH, surface treatment, among
others, which are necessary to consider in each case.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/urn:repox.ist.utl.pt:BDTD_UERJ:oai:www.bdtd.uerj.br:2388 |
| Date | 14 October 2011 |
| Creators | Daniel Frota Lima |
| Contributors | Joaquim Teixeira de Assis, Gil de Carvalho, Edgar Francisco Oliveira de Jesus |
| Publisher | Universidade do Estado do Rio de Janeiro, Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais, UERJ, BR |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | English |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | application/pdf |
| Source | reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ, instname:Universidade do Estado do Rio de Janeiro, instacron:UERJ |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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