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Optische Charakterisierung von II-VI-Halbleiter-Oberflächen in Kombination mit 1st principles Rechnungen

Universiẗat, Diss., 2003--Würzburg. / Erscheinungsjahr an der Haupttitelstelle: 2003.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/177323331
CreatorsWagner, Joachim.
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman
TypeOnline-Publikation.

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