Return to search

Slepá dekonvoluce obrazů kalibračních vzorků z elektronového mikroskopu / Blind Image Deconvolution of Electron Microscopy Images

V posledních letech se metody slepé dekonvoluce rozšířily do celé řady technických a vědních oborů zejména, když nejsou již limitovány výpočetně. Techniky zpracování signálu založené na slepé dekonvoluci slibují možnosti zlepšení kvality výsledků dosažených zobrazením pomocí elektronového mikroskopu. Hlavním úkolem této práce je formulování problému slepé dekonvoluce obrazů z elektronového mikroskopu a hledání vhodného řešení s jeho následnou implementací a porovnáním s dostupnou funkcí Matlab Image Processing Toolboxu. Úplným cílem je tedy vytvoření algoritmu korigujícícho vady vzniklé v procesu zobrazení v programovém prostředí Matlabu. Navržený přístup je založen na regularizačních technikách slepé dekonvoluce.

Identiferoai:union.ndltd.org:nusl.cz/oai:invenio.nusl.cz:316855
Date January 2017
CreatorsSchlorová, Hana
ContributorsOdstrčilík, Jan, Walek, Petr
PublisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Source SetsCzech ETDs
LanguageEnglish
Detected LanguageUnknown
Typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesis
Rightsinfo:eu-repo/semantics/restrictedAccess

Page generated in 0.0024 seconds