Práce se zabývá měřením křivek svítivosti světelných zdrojů a svítidel konvenčními a nekonvenčními metodami. Úvodní část práce je věnována popisu zrakového systému a základních fotometrických veličin. Hlavní teoretická část je zaměřena na popis současných metod měření křivek svítivosti a nových metod měření pomocí jasového analyzátoru. Současně jsou pro jednotlivé metody uvedeny zdroje nejistot, které ovlivňují výsledky měření. Těžiště práce spočívá v návrhu metodiky měření křivek svítivosti z jasových skenů svítidla a následném ověření tohoto postupu vlastním měřením. Dále bylo provedeno srovnání naměřených výsledků navrženým postupem, s výsledky konvenčního měření na goniofotometru s luxmetrem.
Identifer | oai:union.ndltd.org:nusl.cz/oai:invenio.nusl.cz:219906 |
Date | January 2013 |
Creators | Ševčík, Ondřej |
Contributors | Baxant, Petr, Škoda, Jan |
Publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií |
Source Sets | Czech ETDs |
Language | English |
Detected Language | Unknown |
Type | info:eu-repo/semantics/masterThesis |
Rights | info:eu-repo/semantics/restrictedAccess |
Page generated in 0.002 seconds