Caractérisation du transistor mémoire MNOS par mesure de bruit : étude du vieillissement.

Description

Th. 3e cycle--Électronique et radiocommunications--Grenoble--I.N.P.G., 1979. N°: D 77.

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1. http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb36080502x

Tags

TRANSISTOR MNOS/BRUIT DE FOND.

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/464865993
Date	January 1900
Creators	Chaussé, Serge,
Publisher	[S.l. : s.n.,
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	French