Conception de circuits à large échelle d'intégration facilement testables.

Description

Th. 3e cycle--Électronique, électrotech., autom.--Toulouse 3, 1978. N°: 2182.

Links & Downloads

1. http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb360791948

Tags

Circuit intégré, testabilité.

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/464856852
Date	January 1900
Creators	Galiay, Jacques,
Publisher	[S.l. : s.n.,
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	French