Contrôleurs utilisés dans les systèmes autotestables pour le test des sorties combinatoires ou séquentielles. Conception des contrôleurs NMOS à partir de l'assemblage des cellules, des règles de conception pour celle-ci, et des hypothèses de pannes pouvant survenir. Les considérations pratiques sont basées sur des hypothèses de pannes analytiques
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00319479 |
| Date | 14 January 1985 |
| Creators | Schreiber Jansch, Ingrid Eleonora |
| Source Sets | CCSD theses-EN-ligne, France |
| Language | French |
| Detected Language | French |
| Type | PhD thesis |
Page generated in 0.0012 seconds