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Conception de contrôleurs autotestables pour des hypothèses de pannes analytiques

Contrôleurs utilisés dans les systèmes autotestables pour le test des sorties combinatoires ou séquentielles. Conception des contrôleurs NMOS à partir de l'assemblage des cellules, des règles de conception pour celle-ci, et des hypothèses de pannes pouvant survenir. Les considérations pratiques sont basées sur des hypothèses de pannes analytiques

Identiferoai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00319479
Date14 January 1985
CreatorsSchreiber Jansch, Ingrid Eleonora
Source SetsCCSD theses-EN-ligne, France
LanguageFrench
Detected LanguageFrench
TypePhD thesis

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