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Evaluation de la robustesse de circuits intégrés vis-à-vis des décharges électrostatiques

Thèse de doctorat : Dispositifs de l'Electronique Intégrée : Villeurbanne, INSA : 2002. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. p.149-161.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/492334781
Date January 2002
CreatorsGuilhaume, Agnès Chante, Jean-Pierre
Publisher[S.l.] : [s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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