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Uma sistemática para garantia da qualidade metrológica aplicada em ambiente industrial

Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial. / Made available in DSpace on 2013-07-15T23:19:59Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Identiferoai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.ufsc.br:123456789/101834
Date January 2005
CreatorsSilva, Anderson Cesar da
ContributorsUniversidade Federal de Santa Catarina, Donatelli, Gustavo Daniel
PublisherFlorianópolis, SC
Source SetsIBICT Brazilian ETDs
LanguagePortuguese
Detected LanguagePortuguese
Typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis
Format1 v.| il., tabs., grafs.
Sourcereponame:Repositório Institucional da UFSC, instname:Universidade Federal de Santa Catarina, instacron:UFSC
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess

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