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量測誤差對X-S2管制圖設計參數之影響

隨著經濟不斷的發展,企業間的競爭也愈趨激烈,因此在以利潤最大、付出成本最小的前提下,一些可能造成成本增加的因素就不能不重視。在量測產品的特性所使用的量測機器,可能因為量測設備的不精確造成誤差,進而影響測量產品品質特性的實際值。是以量測儀器測量產品特性時的誤差對於管制圖的設計參數的影響及使用管制圖監控製程的能力是我們所關切的課題。
本文探討量測誤差對 — 管制圖的效應。運用George Tagaras非對稱管制圖的概念,及同時考慮Taguchi的損失函數和測量誤差下,以更新理論方法建立 — 管制圖,並推導出目標函數,再透過最佳化的技巧以決定 — 管制圖的最佳經濟設計參數值。另外討論管制圖在統計層面的表現,並與經濟設計的結果作比較。
在資料分析方面,本研究考慮32組製程和成本參數組合,透過最佳化技巧找出 — 經濟及經濟統計管制圖之最小單位時間平均成本及最佳設計參數組合。再利用敏感度分析,觀察量測誤差對設計參數的影響,另外得知重要的製程和成本參數為何。這些可作為製程工程師決策參考之用。

Identiferoai:union.ndltd.org:CHENGCHI/A2002001937
Creators郭又升, Kuo, Yu-Sheng
Publisher國立政治大學
Source SetsNational Chengchi University Libraries
Language中文
Detected LanguageUnknown
Typetext
RightsCopyright © nccu library on behalf of the copyright holders

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