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Bifurcações dinâmicas em circuitos eletrônicos

Submitted by Danielle Karla Martins Silva (danielle.martins@ufpe.br) on 2015-03-06T13:29:09Z
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Previous issue date: 2012 / CAPES / O circuito RLD, formado por um resistor, um indutor e um diodo em série, apresenta uma
dinâmica muito rica quando forçado por uma tensão externa harmônica e vem sendo estudado
há décadas. Contudo, ainda existem tópicos em dinâmica não-linear sendo estudados com variantes
deste circuito. Varreduras nos parâmetros de controle podem fazer com que esse sistema
oscile eletronicamente entre regiões periódicas e regiões caóticas. O diodo é o elemento não
linear responsável pelo surgimento do caos. Utilizando um modelo de capacitância não linear
para descrever o comportamento do diodo, podemos escrever as equações para esse sistema e
estudar a sua dinâmica numericamente.
Nosso principal objetivo foi o estudo de expoentes críticos complexos em bifurcações dinâmicas.
Para isso, realizamos um estudo numérico do circuito RLD forçado senoidalmente
utilizando como parâmetros de controle a frequência e a amplitude da tensão de entrada. Construímos,
a partir das séries temporais da corrente total e da tensão no diodo, diagramas de
bifurcação com diferentes cortes estroboscópicos, que apresentam cascata de dobramento de
período, janelas periódicas e transição intermitente. Também realizamos estudos numéricos
do comportamento da média na região de transição caos-periódico na busca de encontrar um
expoente crítico característico e oscilasções na média, elementos que já foram observados no
mapa logístico. Não foram possíveis observar numericamente as oscilações, mas observamos
um decaimento exponencial com expoente crítico de aproximadamente 0,5.
Montamos um sistema de controle, aquisição e tratamento de dados experimentais no qual
é possível a realização remota de experimentos simultâneos com dois circuitos diferentes. Obtivemos
diagramas de bifurcações experimentais nos quais observamos que o sistema apresentahisterese e alta sensibilidade às condições do experimento como, por exemplo, o passo de varredura
do parâmetro de controle.

Identiferoai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.ufpe.br:123456789/11087
Date31 January 2012
CreatorsONIAS, Heloisa Helena dos Santos
ContributorsAGUIAR, Flávio Menezes de, ORIÁ, Marcos César Santos, LEITE, José Roberto Rios
PublisherUniversidade Federal de Pernambuco
Source SetsIBICT Brazilian ETDs
LanguageBreton
Detected LanguagePortuguese
Typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis
Sourcereponame:Repositório Institucional da UFPE, instname:Universidade Federal de Pernambuco, instacron:UFPE
RightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Brazil, http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/br/, info:eu-repo/semantics/openAccess

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