Return to search

Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau

Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2009

  1. http://d-nb.info/999734938/04
Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/551714890
Date January 2009
CreatorsKlaus, Manuela
PublisherBerlin Univ.-Verl. der TU Berlin
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

Page generated in 0.002 seconds