Return to search

Ožė efektas kristaliniame silicyje / Auger effect in crystal silicon

Tiriant Frenkelio defektų dinamiką Si kristale, kai neužpildyti gardelės mazgai (vakancijos) atsiranda dėl Ožė efekto, mes pritaikėme rentgenogramas. Švitinant susidaro vakancijos taip sukariami Braggo atspindžiai ir generuojamos gardelės osciliacijos (svyravimai). / We applied soft X-rays for investigation of dynamics of Frenkel point defects in a Si crystal during the saturation with metastable vacancies generated by Auger effect. The irradiated vacancies cause the decreasing relative Bragg reflection and generates lattice oscillations.

Identiferoai:union.ndltd.org:LABT_ETD/oai:elaba.lt:LT-eLABa-0001:E.02~2007~D_20070816_162800-45578
Date16 August 2007
CreatorsJazdauskas, Saulius
ContributorsGirdauskas, Valdas, Kisielienė, Edita, Janavičius, Arvydas, Lankauskas, Alfredas, Šlekienė, Violeta, Ragulienė, Loreta, Norgėla, Žilvinas, Siauliai University
PublisherLithuanian Academic Libraries Network (LABT), Siauliai University
Source SetsLithuanian ETD submission system
LanguageLithuanian
Detected LanguageEnglish
TypeMaster thesis
Formatapplication/pdf
Sourcehttp://vddb.library.lt/obj/LT-eLABa-0001:E.02~2007~D_20070816_162800-45578
RightsUnrestricted

Page generated in 0.377 seconds