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Ein neues Verfahren zur Ermittlung des Eigenspannungszustandes am Beispiel der Scheibe mit Kreisloch mit Hilfe der elektronischen Speckle-Pattern-Interferometrie und der Finite-Elemente-Methode /

Stuttgart, Universiẗat, Diss., 2001.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76289880
Date January 2001
CreatorsBirkel, Ulrich.
Publisher[S.l. : s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

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