Etude et amélioration de l'électromigration pour améliorer la durée de vie des interconnexions des technologies CMOS / Interconnexion life time optimisation by improvement of electromigration understanding

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1. http://www.theses.fr/2016GREAI111/document

Tags

Electromigration

Modélisation

Tests électriques

Electromigration

Modelization

Electrical tests

620

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:theses.fr/2016GREAI111
Date	02 December 2016
Creators	Marti, Giulio
Contributors	Grenoble Alpes, Wouters, Yves
Source Sets	Dépôt national des thèses électroniques françaises
Language	French
Detected Language	French
Type	Electronic Thesis or Dissertation, Text