Return to search

Høyttalermåling av Thiele/Small-parametre / Loudspeaker measurement: Thiele Small parameters

<p>Denne rapporten omhandler et prosjekt som tar for å teste en ny metode for å beregne Thiele/Small-parametrene til et element. Tidligere metoder har historisk sett gått på å måle impedansen til elementet i fritt felt og i en lukket kasse. Dette er en tidkrevende prosess. Det er dermed ønskelig å kunne beregne parametrene ved å gjøre kun en måling. En nyere metode av Klippel og Seidel bruker en laser for å måle membranutsvinget, men dette er svært kostbart utstyr. Derfor er det ønskelig å se om man kan klare dette ved å benytte to mikrofoner istedenfor. Metoden går ut på å beregne membranhastigheten ved å måle partikkelhastigheten nært elementet med to mikrofoner, for så å kompensere for måleavstanden. Overføringsfunksjonen fra terminalspenning til membranhastighet blir så brukt til å estimere parametrene ved kurvetilpasning av overføringsfunksjonen til måledataene. For at kurvetilpasningen skal konvergere, må DC-motstanden til elementet måles, siden det er ingen redundans i målingen og at det er ikke tilstrekkelig nøyaktig ved veldig lave frekvenser. Dette blir så sammenlignet med å måle membranhastigheten med en laser. Resultatene viser at det er vanskelig å gjøre en nøyaktig kompensering av måleavstanden. Dette kommer av at den effektive måleavstanden varierer med den målte avstanden fra elementet til mikrofonene. Det blir vist at ved å kompensere for måleavstanden får man et resultat som tilsvarer det fra en laser, men det er ikke klart å finne en generell metode for å gjøre dette.</p>

Identiferoai:union.ndltd.org:UPSALLA/oai:DiVA.org:ntnu-10378
Date January 2007
CreatorsSollien, Håvard
PublisherNorwegian University of Science and Technology, Department of Electronics and Telecommunications, Institutt for elektronikk og telekommunikasjon
Source SetsDiVA Archive at Upsalla University
LanguageNorwegian
Detected LanguageNorwegian
TypeStudent thesis, text

Page generated in 0.0019 seconds