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Carrier injection and degradation mechanisms in advanced NOR Flash memories / Investigation des mécanismes d'injection des porteurs chauds, de tunneling et de dégradation pour les diélectriques dans les technologies avancées CMOS et mémoires non-volatiles

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Identiferoai:union.ndltd.org:theses.fr/2012GRENT118
Date23 January 2012
CreatorsZaka, Alban
ContributorsGrenoble, Pananakakis, Georges
Source SetsDépôt national des thèses électroniques françaises
LanguageEnglish
Detected LanguageFrench
TypeElectronic Thesis or Dissertation, Text

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