Return to search

Spectroscopic analysis of erbium-doped silicon and ytterbium-doped indium phosphide

Proefschrift Universiteit van Amsterdam. / Met lit. opg. - Met samenvatting in het Nederlands.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/193920661
Date January 2001
CreatorsGersdorf, Ingrid.
Publisher[S.l. : Amsterdam : s.n.] ; Universiteit van Amsterdam [Host],
Source SetsOCLC
LanguageEnglish
Detected LanguageDutch
TypeProefschriften (vorm)

Page generated in 0.0017 seconds