A espectrometria de fluorescencia de raios-X de energia dispersiva na medida de espessura de filmes polimericos e filmes metalicos espessos

Description

Orientador: Maria Izabel Maretti Silveira Bueno / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica / Made available in DSpace on 2018-07-26T08:56:26Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1999 / Mestrado

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1. (Broch.)
2. JESUS FILHO, Antenor Lopes de. A espectrometria de fluorescencia de raios-X de energia dispersiva na medida de espessura de filmes polimericos e filmes metalicos espessos. 1999. 104p. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/248798>. Acesso em: 26 jul. 2018.
3. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/248798

Tags

Espectroscopia de raio X

Filmes finos

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/248798
Date	26 July 2018
Creators	Jesus Filho, Antenor Lopes de
Contributors	UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Bueno, Maria Izabel Maretti Silveira, 1957-
Publisher	[s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Instituto de Química
Source Sets	IBICT Brazilian ETDs
Language	Portuguese
Detected Language	Portuguese
Type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis
Format	104p. : il., application/pdf
Source	reponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP
Rights	info:eu-repo/semantics/openAccess