Etude des PLA CMOS. Les 4 aspects suivants sont développés : ― performance électrique: spécification d'évaluation électrique et temporelle de PLA par une technique hybride estimation-simulation basée sur la recherche du chemin critique d'E/S dans le PLA; ― distribution des types de pannes en fin de fabrication et leurs manifestations électriques et logiques. Une approche vers le test de PLA CMOS est également présentée; ― amélioration du rendement de fabrication par la conception de PLA reconfigurable (ajout de lignes supplémentaires; ― partitionnement de PLA en vue de réduire la surface, le temps de réponse, et de faciliter la reconfiguration et l'interconnexion avec les blocs voisins
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00320622 |
| Date | 09 July 1986 |
| Creators | Dandache, Abbas |
| Source Sets | CCSD theses-EN-ligne, France |
| Language | French |
| Detected Language | French |
| Type | PhD thesis |
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