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Le test unifié de cartes appliqué à la conception de systèmes fiables

Si on veut assurer de facon efficace les tests de conception, de fabrication, de maintenance et le test accompli au cours de<br />l'application pour les systemes electroniques, on est amene a integrer le test hors-ligne et le test en-ligne dans des circuits. Ensuite, pour que<br />les systemes complexes tirent profit des deux types de tests, une telle unification doit etre etendue du niveau circuit aux niveaux carte et module.<br />D'autre part, bien que l'integration des techniques de test hors-ligne et en-ligne fait qu'il est possible de concevoir des systemes pour toute<br />application securitaire, le materiel ajoute pour assurer une haute surete de fonctionnement fait que la fiabilite de ces systemes est reduite, car la<br />probabilite d'occurrence de fautes augmente. Confrontee a ces deux aspects antagoniques, cette these se fixe l'objectif de trouver un<br />compromis entre la securite et la fiabilite de systemes electroniques complexes. Ainsi, dans un premier temps, on propose une solution aux<br />problemes de test hors-ligne et de diagnostic qui se posent dans les etapes intermediaires de l'evolution vers les cartes 100% compatibles<br />avec le standard IEEE 1149.1 pour le test "boundary scan". Une approche pour le BIST ("Built-In Self-Test") des circuits et connexions<br />"boundary scan" illustre ensuite l'etape ultime du test hors-ligne de cartes. Puis, le schema UBIST ("Unified BIST") - integrant les techniques<br />BIST et "self-checking" pour le test en-ligne de circuits, est combine au standard IEEE 1149.1, afin d'obtenir une strategie de conception en vue<br />du test unifie de connexions et circuits montes sur des cartes et modules. Enfin, on propose un schema tolerant les fautes et base sur la<br />duplication de ces modules securitaires qui assure la competitivite du systeme resultant du point de vue de la fiabilite, tout en gardant sa surete<br />inherente

Identiferoai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00010759
Date20 June 1994
CreatorsLubaszewski, M.
Source SetsCCSD theses-EN-ligne, France
LanguageFrench
Detected LanguageFrench
TypePhD thesis

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