Analytik von Kontaminationen auf Siliciumoberflächen Möglichkeiten und Grenzen des VPD-Verfahrens /

Description

Universiẗat, Diss., 2004--Frankfurt (Main).

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1. http://publikationen.ub.uni-frankfurt.de/volltexte/2005/940/
2. http://deposit.d-nb.de/cgi-bin/dokserv?idn=975196367

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/179752174
Creators	Metz, Steffen.
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German
Type	Online-Publikation.