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Rastersondenmikroskopische Untersuchungen an Halbleiterdünnschichten aus VO2, ITO und GaN

Giessen, Universiẗat, Diss., 2000.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76192907
Date January 2000
CreatorsKöhler, Ingo.
Publisher[S.l. : s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

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