Anwendung der Röntgenbeugung zur Analyse der strukturellen Eigenschaften von homo- und heteroepitaktischen Halbleiterschichten auf ZnSe-Basis

Description

Universiẗat, Diss., 2000--Bremen.

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1. http://deposit.d-nb.de/cgi-bin/dokserv?idn=95952892X

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/614351176
Creators	Großmann, Volker.
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German
Type	Online-Publikation.