Des études récentes montrent que le modèle de collage logique ne convient pas pour représenter les défauts réels qui peuvent survenir dans les circuits intégrés. C'est pourquoi on recherche des méthodes de test basées sur des hypothèses de pannes analytiques. Problème de la conception des circuits autotestables vis-a-vis d'hypothèses de pannes analytiques: méthodes et règles générales pour les circuits fonctionnels N-MOS "fortement garantis contre les fautes" ("strongly fault secure": sfs). Nouveaux codes. Classe des contrôleurs " à codes fortement disjoints" (" strongly code disjoint": scd). Application des méthodes à l'étude d'un microprocesseur mc68000 autotestable.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00311478 |
| Date | 06 January 1984 |
| Creators | Nicolaides, Michel |
| Source Sets | CCSD theses-EN-ligne, France |
| Language | French |
| Detected Language | French |
| Type | PhD thesis |
Page generated in 0.002 seconds