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Elektronenspektroskopie und Faktoranalyse zur Untersuchung von ionenbeschossenen Metall (Re, Ir, Cr, Fe)-Silizium-Schichten

Techn. Universiẗat, Diss., 2000--Dresden.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/614546104
CreatorsReiche, Rainer.
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

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