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Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten

Münster (Westfalen), Univ., Diss., 2003. / Computerdatei im Fernzugriff.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/638407026
Date January 2002
CreatorsKersting, Reinhard.
Publisher[S.l.] : [s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageUndetermined
Detected LanguageGerman

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