Return to search

É́tude sur la cinétique des défauts structuraux dans le silicium amorphe

No description available.

1. http://hdl.handle.net/1866/9874

Identifer	oai:union.ndltd.org:umontreal.ca/oai:papyrus.bib.umontreal.ca:1866/9874
Date	04 1900
Creators	Joly, Jean-François
Contributors	Mousseau, Normand, Roorda, Sjoerd
Source Sets	Université de Montréal
Detected Language	French
Type	Thèse ou mémoire / Thesis or Dissertation