Contribution à l'étude du test aléatoire des circuits séquentiels et des mémoires. Application à des composants intégrés

Description

Méthodes actuelles des tests non déterministes de systèmes logiques. Méthode d'analyse du test aléatoire de circuits séquentiels. Etude du test aléatoire de circuits séquentiels intégrés (ssi, msi). Exemples d'influence des probabilités des entrées sur la largeur de la séquence de test.

Links & Downloads

1. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00288718
2. http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/28/87/18/PDF/Thevenod-Fosse.Pascale_1978_these.pdf

Tags

systèmes logiques

test

analyse

aléatoire

probabilité

pannes

contrôle

mémoires

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00288718
Date	15 February 1978
Creators	Thevenod Fosse, Pascale
Source Sets	CCSD theses-EN-ligne, France
Language	French
Detected Language	French
Type	PhD thesis