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Etude des effets des contraintes mécaniques induites par les procédés de fabrication sur le comportement électrique des transistors CMOS des noeuds technologiques 65nm et en deça

Thèse doctorat : Dispositifs de l'Electronique Intégrée : Villeurbanne, INSA : 2006. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. p. [205]-216. Glossaire.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/492421316
Date January 2007
CreatorsOrtolland, Claude Poncet, Alain.
PublisherVilleurbanne : Doc'INSA,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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