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Caractérisations électriques des structures MOS à nanocristaux de Ge pour des applications mémoires non volatiles

Thèse doctorat : Microélectronique : Villeurbanne, INSA : 2004. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. à la fin de chaque chapitre.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/493268046
Date January 2005
CreatorsKanoun, Mehdi Souifi, Abdelkader.
PublisherVilleurbanne : Doc'INSA,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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