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Reliability study of advanced 2T-FNFN-NOR embedded memory devices

Estágio realizado na NXP Semiconductor, Nijmegen (Holanda) e orientado pelo Doutor Guoqiao Tao / Tese de mestrado integrado. Engenharia Electrotécnica e de Computadores (Major Telecomunicações). Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2009

Identiferoai:union.ndltd.org:up.pt/oai:repositorio-aberto.up.pt:10216/66710
Date January 2009
CreatorsMoreira, André Ricardo Araújo
ContributorsSilva, José Alberto Peixoto Machado da, Universidade do Porto. Faculdade de Engenharia
Source SetsUniversidade do Porto
LanguageEnglish
Detected LanguagePortuguese
TypeDissertação
FormatXXIII, 78 p., 30 cm, application/pdf, application/pdf
RightsrestrictedAccess
RelationFEUP, SDI, RiFEUP

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