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Test et diagnostic de cartes et de MCMs partiellement boundary scan

Considérant les systèmes microélectroniques actuels, circuits comprenant des millions de transistors, cartes électroniques multi – couches et les MCMs (Modules Multi-puces), les activités de test et de diagnostic, que ce soit pour la validation de prototypes ou la maintenance, prennent de plus en plus d'importance et sont de plus en plus difficiles à réaliser.<br />Certes, l'adoption du standard IEEE 1149.1, plus connu sous le label Boundary Scan (BS) a permis de résoudre une grande partie des problèmes posés par les difficultés d'accès aux nœuds à tester, en remplaçant l'accès mécanique par un accès électronique. Mais actuellement le maché est loin d'être exclusivement fourni en composants munis de ce standard . par conséquent, on assise à l'apparition de systèmes hétérogènes du point de vue de la testabilité, composés de parties BS et d ‘autres non BS, pour lesquels il faut développer des méthodes de test et de diagnostic rencontrés dans ce type de systèmes.<br />Nous proposons dans le cadre de ce travail une méthodologie globale ainsi que son implémentation permettant de rapprocher cet objectif. Elle permet la génération et l'ordonnancement de séquences de test optimales permettant la détection de fautes à la fois dans les conglomérats de circuits BS et non BS, ainsi que sur leurs inter-connexions. Les modèles de collage logique, coupure et court-circuit sont pris en compte.<br />Au niveau du diagnostic, une première estimation des candidats à la faute est effectuée à l'aide d'une approche semi-qualitative. Le diagnostic est ensuite raffiné à l'aide d'une stratégie de recherche des meilleurs nœuds à tester, basée sur l'utilisation de la logique floue.<br />Cette méthodologie, qui s'applique aussi bien aux cartes qu'aux MCMs a été implémentée sous forme d'un outil interfacé avec des ATPGs commerciaux. Les résultats expérimentaux obtenus confirment la validité de l'approche.

Identiferoai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00010767
Date24 January 1996
CreatorsTOUATI, M. - H.
Source SetsCCSD theses-EN-ligne, France
LanguageFrench
Detected LanguageFrench
TypePhD thesis

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