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Formale Beschreibung der Testspezifikation und Testerarchitektur zur Verbesserung der Testentwicklung für gemischt analog-digitale integrierte Schaltungen /

Zugl.: Erlangen, Nürnberg, University, Diss., 2005.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/181521483
Date January 2005
CreatorsDeng, Baolin.
PublisherDüsseldorf : VDI-Verl.,
Source SetsOCLC
LanguageUndetermined
Detected LanguageGerman

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