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Rôle des états d'interface dans le fonctionnement de composants MOS : application aux structures MNOS à effet mémoire et aux transistors MOS sur silicium sur isolant.

Th.--Sci. phys.--Grenoble--I.N.P.G., 1979. N°: DE 73.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/464862144
Date January 1900
CreatorsGentil, Pierre,
Publisher[S.l. : s.n.,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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