In this work we made a review of how a multi-probes microscope using Atomic Force and Near Field Scanning Microscopy works. Currently, the Nanonics Multiview 4000 instaled at the Materials Caracterization and Microscopy Laboratory (LCMMAT) is not completly working. Nowadays, we are able to do Atomic Force Microscopy (AFM) and reflection and transmission Scanning Near Field Microscopy (SNOM) measurements. This kind of microscope have three probes which are able to do simultaneaous mesurements of AFM, C-AFM, SNOM, Raman Microscopy and nanolitography. It is the first multi-probe microscope to be instaled in Latin America. This work consists in studying the structure of this kind of microscope, how does it make AFM and SNOM measurements and how to analise them. We study the different electronic circuits which are used in this kind of microscopes and we compare both optical and tuning-fork feedback. It was explain step by step how to do and AFM and SNOM measurement. We study the processing and analise of this measurements. Finally, we made some different measurements using this tecniques. Some of this measurements were compared with that found in references in order to try to find some possible aplications which could be useful for future researches at our laboratory. / Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior / Neste trabalho realizamos uma revisão do funcionamento do Microscópio Raman Confocal Multipontas com Campo Próximo e Força Atômica modelo Multiview 4000 da empresa Nanonics. Atualmente, o microscópio Multiview 4000 do Laboratório de Caracterização e Microscopia de Materiais (LCMMAT) ainda não se encontra operando aos 100%. Ele encontra-se em fase de montagem, estando disponível hoje em dia para uso só o Microscópio de Força Atômica (AFM) e o Microscópio de Campo Próximo (SNOM) nos modos reflexão e transmissão. Este modelo de microscópio, o qual possui três ponteiras que são capazes de fazer medidas em simultâneo de AFM, C-AFM, SNOM e microscopia Raman Confocal, alem de poder fazer nanolitografia, é o primeiro a ser instalado na America Latina. Durante a realização do presente trabalho, estudamos a estrutura do microscópio, como ele realiza as medidas destas duas técnicas e como elas são feitas. No estudo estrutural do Microscópio foram descritos os princípios físicos que são usados para a formação da imagem, alem dos diferentes tipos de circuitos eletrônicos usados em equipamentos de este tipo. Explicou-se passo a passo como são feitas as medidas de AFM e de SNOM. Estudamos também como é feito o analise e o processamento das imagens. Finalmente foram mostradas algumas imagens que foram feitas usando o microscópio, e comparou-se com alguns resultados encontrados na bibliografia a fim de encontrar possíveis aplicações de cada uma das amostras aqui mostradas.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:www.repositorio.ufal.br:riufal/1008 |
| Date | 16 February 2012 |
| Creators | Suárez, Vanessa Isabel Tardillo |
| Contributors | Hickmann, Jandir Miguel, http://lattes.cnpq.br/0235913656361156, Fonseca, Eduardo Jorge da Silva, FONSECA, E. J. S., Souza, Rogerio Fernandes de, http://lattes.cnpq.br/7212395642213348 |
| Publisher | Universidade Federal de Alagoas, BR, Física geral; Física teórica e computacional; Mecânica estatística; Ótica; Ótica não linear; Proprie, Programa de Pós-Graduação em Física da Matéria Condensada, UFAL |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | application/pdf |
| Source | reponame:Repositório Institucional da UFAL, instname:Universidade Federal de Alagoas, instacron:UFAL |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Relation | bitstream:http://www.repositorio.ufal.br:8080/bitstream/riufal/1008/1/Dissertacao_VanessaIsabelTardilloSuarez_2012.pdf, bitstream:http://www.repositorio.ufal.br:8080/bitstream/riufal/1008/2/Dissertacao_VanessaIsabelTardilloSuarez_2012.pdf.txt |
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